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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Anglais · Livre Relié

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Description

Détails du produit

Auteurs Zhong Lin Wang, Wang Zhong Lin
Edition Cambridge Academic
 
Langues Anglais
Format d'édition Livre Relié
Sortie 23.05.1996
 
EAN 9780521482660
ISBN 978-0-521-48266-0
Dimensions 170 mm x 244 mm x 25 mm
Poids 930 g
Illustrations 224 b/w illus. 10 tables, Zeichnungen, nicht spezifiziert, Raster, nicht spezifiziert, Tabellen, nicht spezifiziert
Catégories Sciences naturelles, médecine, informatique, technique > Physique, astronomie > Electricité, magnétisme, optique

SCIENCE / Physics / Electricity, SCIENCE / Physics / Magnetism, SCIENCE / Physics / Electromagnetism, Materials science, Electricity, electromagnetism & magnetism, TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science / General, Electricity, electromagnetism and magnetism

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