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Le processus de test électronique est vital pendant la conception et le développement du système ainsi que pendant le service pour maintenir le fonctionnement du système. Les méthodologies de test sont largement classées en analogique, numérique et signal mixte en fonction de la nature du système. La mise en oeuvre d'une méthode de test pour les circuits analogiques reste une tâche difficile en raison de l'inexistence de techniques bien développées et du niveau de complexité croissant des circuits. Ce livre sur le diagnostic des défauts des circuits analogiques linéaires et non linéaires aide les lecteurs ou les chercheurs à bien comprendre les concepts fondamentaux du test des circuits analogiques. Il couvre le diagnostic des défauts des circuits analogiques linéaires et non linéaires. Il guide le lecteur sur les défis du test, les modèles de défauts et la classification des méthodes de diagnostic de défauts. Il présente l'état de l'art en matière de diagnostic de défauts des circuits analogiques linéaires et non linéaires et les résultats expérimentaux de certaines méthodes de diagnostic de défauts.
A propos de l'auteur
Dr. G. Puvaneswari, erhielt ihren B.E. (ECE), M.E. (Medizinische Elektronik) und Ph.D. (Analoge Schaltungen) von der Madras University und der Anna University, Tamil Nadu, Indien. Derzeit ist sie Assistenzprofessorin (SG), ECE, Coimbatore Institute of Technology, Coimbatore, Indien. Ihre Forschungsinteressen sind analoge integrierte Schaltungen und biomedizinische Technik.
