Europäisches Patentübereinkommen. EPÜ

Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.

Vorteile auf einen Blick

• Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker
• gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard
• Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften

Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).

Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.

Résumé

Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.

Vorteile auf einen Blick

• Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker
• gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard
• Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften

Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).

Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.

Détails du produit

• Collaboration: Thomas Adam u a (Editeur), Ingo Beckedorf (Editeur), Joche Ehlers (Editeur), Jochen Ehlers (Editeur), Ursul Kinkeldey (Editeur), Ursula Kinkeldey (Editeur)
• Edition: Beck Juristischer Verlag
• Langues: Allemand
• Format d'édition: Livre Relié
• Sortie: 01.05.2023
• EAN: 9783406761959
• ISBN: 978-3-406-76195-9
• Pages: 2142
• Dimensions: 179 mm x 58 mm x 243 mm
• Poids: 1803 g
• Illustrations: mit 4 Karten
• Thème: Beck'sche Kurz-Kommentare
• Catégories: Sciences sociales, droit, économie > Droit > Droit commercial; Patentrecht, W-RSW_Rabatt, EPA, EPÜ, Patentgesetz, Europäisches Patentübereinkommen, Benkard