En savoir plus
Dit document presenteert het model dat is ontworpen voor de analyse van beelden die diffractiepatronen bevatten, evenals de software die is ontwikkeld om metingen te doen van hoeken en afstanden tussen verschillende karakteristieke punten (signalen) die zijn opgenomen in de onderzochte patronen door de onderzoekers van het Center for Research in Advanced Materials (CIMAV). De belangrijkste reden om dit systeem te ontwikkelen is dat onderzoekers het proces van analyse en indexering van diffractiepatronen handmatig moeten uitvoeren, een taak die vervelend wordt en vatbaar voor menselijke fouten. Daarom is de tool ontworpen om de indexering van patronen in beelden te automatiseren en te ondersteunen, waardoor het proces van signaaldetectie wordt vergemakkelijkt en zo een nauwkeuriger meting tussen de geanalyseerde elementen van het diffractiepatroon wordt bereikt.
A propos de l'auteur
Tania Campos obtuvo la Maestría Sistemas Computacionales en el área de Inteligencia Artificial en el TecNM campus Chihuahua II en 2016. Es coautora del artículo Method for Signals Detection in Single Crystal Diffraction Patterns through a Diffraction Pattern Indexing Software publicado en el Journal of Mechanics Engineering and Automation en 2015.
