Résultat de la recherche - Livres - CeDe.ch

Prendre contact avec CeDe

Vous avez des questions, des conseils, des compliments ou des critiques dont vous souhaitez nous faire part? Vos commentaires nous aident à améliorer CeDe.ch. Nous serons heureux de recevoir vos messages et nous répondons à tous les E-mails, rapidement, de manière professionnelle et avec plaisir. Merci beaucoup!

Ce site utilise des cookies. Lisez notre Déclaration de protection des données pour en savoir plus sur la façon dont nous utilisons les cookies et comment vous pouvez modifier vos préférences. OK

Meilleur service et livraison gratuite depuis 1997

Liste des désirs

Résultat de la recherche

F P Beenker, F P M Beenker, F. P. M. Beenker, F.P.M. Beenker, Frans Beenker, R Bennetts... - Testability Concepts for Digital ICs

F P Beenker, F P M Beenker, F. P. M. Beenker, F.P.M. Beenker, Frans Beenker, R Bennetts... Testability Concepts for Digital ICs Anglais 25.01.2013 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

R Simpson, R Simpson, William R. Simpson, John W. Sheppard, William R. Simpson, Joh W Sheppard... - Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis

R Simpson, R Simpson, William R. Simpson, John W. Sheppard, William R. Simpson, Joh W Sheppard... Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis Anglais 13.03.2013 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Kwang-Ting Cheng, Angel Krstic, Angela Krstic, Kwang-Ting (Tim) Cheng, Kwang-Ting (Tim) Cheng - Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Kwang-Ting Cheng, Angel Krstic, Angela Krstic, Kwang-Ting (Tim) Cheng, Kwang-Ting (Tim) Cheng Delay Fault Testing for VLSI Circuits Anglais 13.03.2013 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Vishwani Agrawal, Vishwani D. Agrawal, Bushnell, M Bushnell, M. Bushnell, Michael L. Bushnell - Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

Vishwani Agrawal, Vishwani D. Agrawal, Bushnell, M Bushnell, M. Bushnell, Michael L. Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits Anglais 16.10.2013 Livre de poche Fr. 168.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Chakravarty, S Chakravarty, S. Chakravarty, Paul J Thadikaran, Paul J. Thadikaran - Introduction to IDDQ Testing

Chakravarty, S Chakravarty, S. Chakravarty, Paul J Thadikaran, Paul J. Thadikaran Introduction to IDDQ Testing Anglais 31.05.2014 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Michael L Bushnell, Michael L. Bushnell, Xinghao Chen, Xinghao Che, Xinghao Chen, Xinghao Chen - Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design

Michael L Bushnell, Michael L. Bushnell, Xinghao Chen, Xinghao Che, Xinghao Chen, Xinghao Chen Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design Anglais 25.07.2012 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Jitendra Khare, Jitendra B Khare, Jitendra B. Khare, Wojciech Maly - From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Jitendra Khare, Jitendra B Khare, Jitendra B. Khare, Wojciech Maly From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss Anglais 25.07.2012 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Dimitri Gizopoulos, Dimitris Gizopoulos, Paschalis, A Paschalis, A. Paschalis, Antonis Paschalis... - Embedded Processor-Based Self-Test

Dimitri Gizopoulos, Dimitris Gizopoulos, Paschalis, A Paschalis, A. Paschalis, Antonis Paschalis... Embedded Processor-Based Self-Test Anglais 22.10.2010 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Krishnendu Chakrabarty, Krishnend Chakrabarty, Krishnendu Chakrabarty - SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Krishnendu Chakrabarty, Krishnend Chakrabarty, Krishnendu Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation Anglais 21.10.2010 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Benoi Nadeau-Dostie, Benoit Nadeau-Dostie - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

Benoi Nadeau-Dostie, Benoit Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement Anglais 18.10.2013 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

R Dean Adams, R. Dean Adams - High Performance Memory Testing

R Dean Adams, R. Dean Adams High Performance Memory Testing Anglais 17.10.2013 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Yervan Zorian, Yervant Zorian - Multi-Chip Module Test Strategies

Yervan Zorian, Yervant Zorian Multi-Chip Module Test Strategies Anglais 30.01.2013 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Andre Pavlov, Andrei Pavlov, Manoj Sachdev - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Andre Pavlov, Andrei Pavlov, Manoj Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Anglais 20.10.2010 Livre de poche Fr. 198.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Ada Osseiran, Adam Osseiran - Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

Ada Osseiran, Adam Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan Anglais 22.10.2010 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Erik Larsson - Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Erik Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization Anglais 22.10.2010 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Bashir M Al-Hashimi, Bashir M. Al-Hashimi, Bashir M. Al- Hashimi, Nicol Nicolici, Nicola Nicolici - Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Bashir M Al-Hashimi, Bashir M. Al-Hashimi, Bashir M. Al- Hashimi, Nicol Nicolici, Nicola Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits Anglais 21.10.2010 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Diego Vázquez García de la Vega, Jose Luis Huertas Díaz, Glori Huertas Sánchez, Gloria Huertas Sánchez, Adoración Rueda Rueda, Adoración Rueda Rueda... - Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Diego Vázquez García de la Vega, Jose Luis Huertas Díaz, Glori Huertas Sánchez, Gloria Huertas Sánchez, Adoración Rueda Rueda, Adoración Rueda Rueda... Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits Anglais 18.10.2010 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Wolfgan Kunz, Wolfgang Kunz, Dominik Stoffel - Reasoning in Boolean Networks

Wolfgan Kunz, Wolfgang Kunz, Dominik Stoffel Reasoning in Boolean Networks Anglais 22.10.2010 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Michael Nicolaidis, Dhiraj K. Pradan, Dhiraj Pradhan, Dhiraj K. Pradhan, Yervan Zorian, Yervant Zorian - On-Line Testing for VLSI

Michael Nicolaidis, Dhiraj K. Pradan, Dhiraj Pradhan, Dhiraj K. Pradhan, Yervan Zorian, Yervant Zorian On-Line Testing for VLSI Anglais 22.10.2010 Livre de poche Fr. 134.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

Peter Y K Cheung, Peter Y. K. Cheung, Peter Y.K. Cheung, José T d Sousa, José T de Sousa, José T. de Sousa - Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Peter Y K Cheung, Peter Y. K. Cheung, Peter Y.K. Cheung, José T d Sousa, José T de Sousa, José T. de Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis Anglais 21.10.2010 Livre de poche Fr. 188.00 1-2 semaines (titre imprimé sur commande)

1
2
3
4