Chia-Wei Chen - Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

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Chia-Wei Chen

Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

Englisch · Taschenbuch

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Beschreibung

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Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.

Produktdetails

Autoren Chia-Wei Chen
Verlag KIT Scientific Publishing
 
Sprache Englisch
Produktform Taschenbuch
Erschienen 01.01.2025
 
EAN 9783731514022
ISBN 978-3-7315-1402-2
Seiten 210
Abmessung 148 mm x 13 mm x 210 mm
Gewicht 400 g
Illustration graph. Darst.
Serie Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
Thema Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik > Physik, Astronomie > Elektrizität, Magnetismus, Optik

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