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Spacer Engineered Finfet Architectures - High-Performance Digital Circuit Applications

Englisch · Fester Einband

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Beschreibung

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Zusammenfassung

This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device–circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.

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