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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis - Principles and Applications, Second Edition

Englisch · Fester Einband

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Beschreibung

Produktdetails

Autoren Lawrence E. Murr
Mitarbeit Lawrence E Murr (Herausgeber)
Verlag Taylor and Francis
 
Sprache Englisch
Produktform Fester Einband
Erschienen 25.07.1991
 
EAN 9780824785567
ISBN 978-0-8247-8556-7
Seiten 856
Gewicht 1587 g
Themen Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik > Naturwissenschaften allgemein

Microscopy, SCIENCE / Microscopes & Microscopy

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