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Louis J. Gullo, Raheja, Dev G. Raheja, Dev G. Gullo Raheja, DG Raheja, De G Raheja... - Design for Reliability

Louis J. Gullo, Raheja, Dev G. Raheja, Dev G. Gullo Raheja, DG Raheja, De G Raheja... Design for Reliability Englisch 12.11.2010 Fester Einband Fr. 159.00 1-3 Arbeitstage

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K Gray, Kirk Gray, Kirk A Gray, Kirk A. Gray, Kirk A. Paschkewitz Gray, Kirk Paschkewitz Gray... Next Generation Halt and Hass Englisch 13.05.2016 Fester Einband Fr. 178.90 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)

A Feinberg, Alec Feinberg, Feinberg Alec - Thermodynamic Degradation Science

A Feinberg, Alec Feinberg, Feinberg Alec Thermodynamic Degradation Science Englisch 14.10.2016 Fester Einband Fr. 136.00 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)

Carl Carlson, Carl S Carlson, Carl S. Carlson - Effective Failure Mode and Effect Analysis

Carl Carlson, Carl S Carlson, Carl S. Carlson Effective Failure Mode and Effect Analysis Englisch 12.06.2012 Fester Einband Fr. 180.00 3-5 Wochen

Morris, Alan Morris, Alan S Morris, Alan S. Morris, Alan S. (University of Sheffield Morris, As Morris... - Measurement and Calibration Requirements for Quality Assurance to

Morris, Alan Morris, Alan S Morris, Alan S. Morris, Alan S. (University of Sheffield Morris, As Morris... Measurement and Calibration Requirements for Quality Assurance to Englisch 16.10.1997 Fester Einband Fr. 330.00 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)

M Todinov, M. T. Todinov, Michael Todinov, Michael (Cranfield University Todinov, Todinov Michael - Reliability and Risk Models

M Todinov, M. T. Todinov, Michael Todinov, Michael (Cranfield University Todinov, Todinov Michael Reliability and Risk Models Englisch 06.11.2015 Fester Einband Fr. 176.00 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)

Gregor Levitin, Gregory Levitin, Gregory Xing Levitin, Levitin Gregory, Chaonan Wang, L Xing... - Dynamic System Reliability

Gregor Levitin, Gregory Levitin, Gregory Xing Levitin, Levitin Gregory, Chaonan Wang, L Xing... Dynamic System Reliability Englisch 31.03.2019 Fester Einband Fr. 176.00 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)

Jensen, F Jensen, F. Jensen, Finn Jensen, Finn (Finn Jensen Reliability Consultancy Jensen, Finn B. Jensen... - Electronic Component Reliability

Jensen, F Jensen, F. Jensen, Finn Jensen, Finn (Finn Jensen Reliability Consultancy Jensen, Finn B. Jensen... Electronic Component Reliability Englisch 23.11.1995 Fester Einband Fr. 375.00 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)

Chim, Wai Kin Chim, Wai Kin (National University of Singapore) Chim, Wai-Kin Chim, Wk Chim, CHIM WAI KIN - Semiconductor Device and Failure Analysis

Chim, Wai Kin Chim, Wai Kin (National University of Singapore) Chim, Wai-Kin Chim, Wk Chim, CHIM WAI KIN Semiconductor Device and Failure Analysis Englisch 10.11.2000 Fester Einband Fr. 306.00 1-3 Wochen (kurzfristig nicht lieferbar)