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Tarek Ben Salah, Stéphane Lefebvre, Douha Othmen

Controllo dell'invecchiamento dei transistor di potenza - Sfida di affidabilità: controllo dell'invecchiamento dei transistor e dei guasti in condizioni di cortocircuito. DE

Italiano · Tascabile

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Descrizione

Dettagli sul prodotto

Autori	Tarek Ben Salah, Stéphane Lefebvre, Douha Othmen
Editore	Edizioni Sapienza

Lingue	Italiano
Formato	Tascabile
Pubblicazione	17.06.2025

EAN	9786208939472
ISBN	9786208939472
Pagine	88
Categoria	Scienze naturali, medicina, informatica, tecnica > Tecnica > Elettronica, elettrotecnica, telecomunicazioni

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