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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis - Principles and Applications, Second Edition

Inglese · Copertina rigida

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Descrizione

Dettagli sul prodotto

Autori Lawrence E. Murr
Con la collaborazione di Lawrence E Murr (Editore)
Editore Taylor and Francis
 
Lingue Inglese
Formato Copertina rigida
Pubblicazione 25.07.1991
 
EAN 9780824785567
ISBN 978-0-8247-8556-7
Pagine 856
Peso 1587 g
Categorie Scienze naturali, medicina, informatica, tecnica > Scienze naturali, tematiche generali

Microscopy, SCIENCE / Microscopes & Microscopy

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