Descrizione
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Sommario
Elektronenmikroskopische Untersuchungen an photographischen Schichten.
Dettagli sul prodotto
| Autori | Eberhard Klein |
| Editore | Springer, Berlin |
| Lingue | Tedesco |
| Formato | Tascabile |
| Pubblicazione | 01.01.1958 |
| EAN | 9783662244999 |
| ISBN | 978-3-662-24499-9 |
| Pagine | 86 |
| Illustrazioni | 86 S. 144 Abb. |
| Serie |
Mitteilungen aus den Forschungslaboratorien der Agfa-Gevaert AG, Leverkusen-München Mitteilungen aus den Forschungslaboratorien der Agfa-Gevaert AG, Leverkusen-München |
| Categoria |
Scienze naturali, medicina, informatica, tecnica
> Tecnica
> Tecnica chimica
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