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A Sagan, L A Sagan, C G Whipple, P. F. Ricci, P.F. Ricci, Paolo F. Ricci... - Technological Risk Assessment

A Sagan, L A Sagan, C G Whipple, P. F. Ricci, P.F. Ricci, Paolo F. Ricci... Technological Risk Assessment Inglese 17.10.2013 Tascabile Fr. 69.00 1-2 settimane (il titolo viene stampato sull'ordine)

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J. P. Evans, Helbo, Helbo, André Helbo, P Evans, J P Evans - Semiotics and International Scholarship: Towards a Language of Theory

J. P. Evans, Helbo, Helbo, André Helbo, P Evans, J P Evans Semiotics and International Scholarship: Towards a Language of Theory Inglese 22.11.2011 Copertina rigida Fr. 188.00 2-3 settimane (il titolo viene stampato sull'ordine)

Duckstein, L Duckstein, L. Duckstein, Parent, Parent, E. Parent - Engineering Risk in Natural Resources Management

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Duckstein, L Duckstein, L. Duckstein, Parent, Parent, E. Parent - Engineering Risk in Natural Resources Management

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Aysen T¿rkman, Ayse Türkman, Aysen Türkman, Uslu, Uslu, O. Uslu - New Developments in Industrial Wastewater Treatment

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Paolo Lugli, Stefa P Svensson, Stefan P Svensson, R. L. Ross, R.L. Ross, R.Lee Ross... - Pseudomorphic HEMT Technology and Applications

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B. Bensahel, Leigh T. Canham, Stefano Ossicini, Stephano Ossicini, Leig T Canham, Leigh T Canham - Optical Properties of Low Dimensional Silicon Structures

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Bloor, D Bloor, D. Bloor, David Bloor, Dayid Bloor, R. R. Chance... Polydiacetylenes Inglese 30.06.2009 Copertina rigida Fr. 238.00 2-3 settimane (il titolo viene stampato sull'ordine)

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Martinez, G Martinez, G. Martinez Optical Properties of Semiconductors Inglese 29.06.2009 Copertina rigida Fr. 238.00 2-3 settimane (il titolo viene stampato sull'ordine)

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