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Edward B Hakim, Edward B. Hakim, Hakim Edward B., Pradeep Lall, Pradeep (Auburn University Lall, Pradeep Pecht Lall... - Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

Edward B Hakim, Edward B. Hakim, Hakim Edward B., Pradeep Lall, Pradeep (Auburn University Lall, Pradeep Pecht Lall... Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability Inglese 19.06.2019 Tascabile Fr. 66.00 1-3 settimane (non disponibile a breve termine)

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Edward B. Hakim, Edward B. (U.S. Army Research Laboratory Hakim, Hakim Edward B., Lall, Lall Lall, Pradeep Lall... Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability Inglese 01.01.1997 Copertina rigida Fr. 190.00 3-5 settimane