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Krishnendu (EDT)/ Goel Chakrabarty, Sandeep K. (Tsmc Technology Inc. Goel, Sandeep K. Chakrabarty Goel, Chakrabarty Krishnendu, Krishnendu Chakrabarty, Krishnendu (Duke University Chakrabarty... - Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits

Krishnendu (EDT)/ Goel Chakrabarty, Sandeep K. (Tsmc Technology Inc. Goel, Sandeep K. Chakrabarty Goel, Chakrabarty Krishnendu, Krishnendu Chakrabarty, Krishnendu (Duke University Chakrabarty... Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits Inglese 25.10.2013 Copertina rigida Fr. 320.00 1-3 settimane (non disponibile a breve termine)

Sandeep K. (Tsmc Technology Inc. Goel, Sandeep K. Chakrabarty Goel, Chakrabarty Krishnendu, Krishnendu Chakrabarty, Chakrabarty Krishnendu, Sandeep K. Goel... - Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits

Sandeep K. (Tsmc Technology Inc. Goel, Sandeep K. Chakrabarty Goel, Chakrabarty Krishnendu, Krishnendu Chakrabarty, Chakrabarty Krishnendu, Sandeep K. Goel... Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits Inglese 31.12.2018 Tascabile Fr. 136.00 3-5 settimane