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Destinado a estudiantes, ingenieros y profesionales, este libro reúne la teoría de la electrostática y la instrumentación capacitiva para pasar del modelo al dispositivo. Tras cubrir los aspectos básicos (cálculo vectorial, ecuaciones de Laplace/Poisson, condiciones de contorno, teorema de unicidad), pasa a los medios dieléctricos, la capacitancia, la energía y las fuerzas (tensión de Maxwell, efectos de borde) y sus implicaciones en el diseño. Una sección importante detalla los métodos numéricos FDM/FEM/BEM: elección de simetrías, mallado, criterios de convergencia y validación experimental. En cuanto a las mediciones, el libro trata de los medidores LCR, los puentes de Schering, las técnicas de protección, el apantallamiento y la puesta a tierra, la calibración y la incertidumbre, con protocolos paso a paso y hojas de cálculo. Los casos prácticos (cable coaxial, sensores capacitivos, interfaces táctiles, estructuras MOS/MEMS) muestran cómo vincular geometría, permitividad y rendimiento. Cada capítulo incluye "recetas" de modelización, listas de comprobación de laboratorio y ejercicios corregidos que le ayudarán a consolidar sus conocimientos. Diseñado con fines formativos y de ingeniería, el libro está orientado al uso seguro y eficiente de los sistemas capacitivos.
About the author
Mohammed RASHEED, profesor i naukowiec w dziedzinie nauk stosowanych (Uniwersytet Technologiczny w Bagdadzie; Uniwersytet w Angers), zajmuje si¿ nanotechnologi¿, cienkimi warstwami, optyk¿, materiäami, ceramik¿, polimerami, laserami, modelowaniem i przetwarzaniem obrazu. Autor >220 artyku¿ów, >70 wspó¿prac w >10 krajach; recenzent >200 czasopism.
