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In questo libro viene riportato il lavoro svolto sull'imaging a contrasto di fase a raggi X. Il lavoro comprende simulazioni per studiare la fattibilità dell'imaging a contrasto di fase e l'allestimento di un impianto sperimentale in laboratorio che utilizza una sorgente di microfocus a raggi X e un rivelatore CCD per effettuare gli esperimenti. L'imaging a contrasto di fase dipende da diversi parametri come la distanza sorgente-oggetto, oggetto-rivelatore, energia della sorgente, ecc. Per ottimizzare questi parametri sono state effettuate ampie simulazioni teoriche con la tecnica di imaging a contrasto di fase per sorgenti monocromatiche e policromatiche. Utilizzando la struttura di cui sopra, sono stati studiati per la prima volta materiali avanzati come microsfere di zirconia rivestite di pirocarbonio (PyC) e carburo di silicio e microsfere di allumina rivestite di PyC, utilizzando la tecnica di imaging a contrasto di fase a raggi X. Questi oggetti sono rivestiti con materiali a basso Z e hanno uno scarso assorbimento dei raggi X, pertanto con la radiografia convenzionale non è possibile vedere i rivestimenti. Questi materiali sono quindi ideali per mostrare gli effetti del contrasto di fase. Questi tipi di oggetti sono utilizzati nei reattori raffreddati a gas ad alta temperatura.
About the author
Poonamlata S. Yadav, professore assistente, insegna da 12 anni a livello UG nel Dipartimento di Fisica del Maharashtra College of Arts, Science and Commerce, Mumbai -08, Maharashtra, India. Il suo campo di ricerca è l'imaging a raggi X sensibile alla fase e l'imaging neutronico. Ha pubblicato vari articoli di ricerca in riviste nazionali e internazionali.
