Revisión de algunos algoritmos de detección de rasgos locales

A medida que la inteligencia artificial y el reconocimiento facial ganan importancia en las aplicaciones, las técnicas de detección de rasgos locales se aplican con mayor frecuencia. En las últimas décadas se han desarrollado muchos algoritmos diferentes de detección de rasgos locales. Elegir el algoritmo más adecuado para una aplicación es una tarea difícil. Este libro revisa algunos algoritmos de detección de rasgos locales y ayuda a seleccionar el algoritmo en las aplicaciones.

About the author

John Zhang est professeur de mathématiques à l'université d'Indiana en Pennsylvanie. Il a obtenu son doctorat en mathématiques à l'université de Syracuse et possède des maîtrises en commerce, en statistiques et en informatique. Ses recherches portent principalement sur les domaines interdisciplinaires entre ces disciplines.

Product details

• Authors: Tao Sun, John Zhang
• Publisher: Ediciones Nuestro Conocimiento
• Languages: Spanish
• Product format: Paperback / Softback
• Released: 17.04.2024
• EAN: 9786207393589
• ISBN: 978-620-7-39358-9
• No. of pages: 88
• Dimensions: 150 mm x 220 mm x 6 mm
• Weight: 149 g
• Subject: Social sciences, law, business > Business > General, dictionaries