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Il processo di collaudo elettronico è fondamentale durante la progettazione e lo sviluppo del sistema e durante il servizio per mantenerne il funzionamento. Le metodologie di test sono ampiamente classificate come analogiche, digitali e a segnale misto, in base alla natura del sistema. L'implementazione di un metodo di test per i circuiti analogici è ancora un compito impegnativo a causa dell'inesistenza di tecniche ben sviluppate e della crescente complessità dei circuiti. Questo libro sulla diagnosi dei guasti dei circuiti analogici lineari e non lineari aiuta i lettori o i ricercatori ad avere una buona comprensione dei concetti fondamentali alla base del test dei circuiti analogici. Copre la diagnosi dei guasti dei circuiti analogici lineari e non lineari. Guida il lettore alle sfide del collaudo, ai modelli di guasto e alla classificazione dei metodi di diagnosi dei guasti. Presenta lo stato dell'arte della diagnosi dei guasti dei circuiti analogici lineari e non lineari e i risultati sperimentali di alcuni metodi di diagnosi dei guasti.
About the author
La dott.ssa G. Puvaneswari ha conseguito il B.E (ECE), il M.E (Elettronica Medicale) e il Ph.D (Circuiti Analogici) presso l'Università di Madras e l'Università di Anna, Tamil Nadu, India. Attualmente è professore assistente (SG), ECE, Coimbatore Institute of Technology, Coimbatore, India. I suoi interessi di ricerca sono i circuiti integrati analogici e l'ingegneria biomedica.
