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Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des "effets d'événement unique". SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables.
About the author
Keyur Mahant nasceu em Cambay, Índia, a 2 de Agosto de 1986. Recebeu o B.Tech em Electrónica e Comunicação do C U Shah College of engineering and technology, Índia em 2008. Também recebeu M.Tech em Sistema de Comunicação da Universidade de CHARUSAT, Índia em 2011. Actualmente, está a prosseguir o seu doutoramento na área de RF e Microondas.
