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Studio del difrettometro a raggi X (XRD)

Italian · Paperback / Softback

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Una corretta preparazione del campione è fondamentale per ottenere dati di alta qualità al diffrattometro a raggi X. Se il campione non è stato sottoposto ai parametri per una corretta preparazione XRD, si introducono errori che rendono difficile o impossibile l'identificazione delle fasi e errate le stime delle abbondanze e della cristallinità. Idealmente, per ottenere buoni dati, sarebbe preferibile condurre tre condizioni: (a) totale casualità dell'orientamento dei cristalliti. (b) Numero sufficiente di cristalliti per indurre una distribuzione dell'intensità rappresentativa del campione. (c) Intensità di diffrazione sufficiente a soddisfare le statistiche di conteggio. Il presente documento illustra i metodi di preparazione perfetta dei campioni XRD di solidi, liquidi e gas. I materiali strutturalmente modificati in risposta all'interazione solido-gas hanno una grande importanza in molti settori. Le strutture a raggi X di sodio liquido, potassio e leghe sodio-potassio sono state studiate con un metodo migliorato. Utilizzando una tecnica a serbatoio, una superficie piana di metallo liquido è stata esaminata da un fascio monocromatico di raggi X in un diffrattometro a elevata focalizzazione.

About the author










L'autore del libro lavora attualmente presso l'Università di Kalinga, in India, come professore assistente presso il dipartimento di Ingegneria civile. Ha un'esperienza di insegnamento di 8 anni ed è tutor delle materie Gestione delle costruzioni e Struttura in acciaio.

Product details

Authors Ruchi Chandrakar
Publisher Edizioni Sapienza
 
Languages Italian
Product format Paperback / Softback
Released 28.09.2022
 
EAN 9786205209059
ISBN 9786205209059
No. of pages 64
Subject Social sciences, law, business > Business > Miscellaneous

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