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La irradiación de electrones de MeV de las heteroestructuras de Si

Spanish · Paperback / Softback

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Se ha estudiado la generación de defectos de radiación por irradiación de electrones de MeV de alta energía de estructura de Si-SiO2 de tipo n y p con diferentes tipos de óxidos. Los cambios morfológicos del óxido de SiO2 durante la irradiación de electrones MeV fueron observados por AFM. Se presentan las estructuras de Si-SiO2 implantadas con iones de Si+ antes y después de la irradiación de electrones de MeV. La redistribución de los átomos de oxígeno y silicio y la generación de nanocristales de Si durante la irradiación de electrones de MeV se observaron mediante las técnicas RBS/C y AFM, respectivamente. También se realizan estudios de propiedades ópticas, fotoluminiscencia y espectroscopia de películas de SiOx irradiadas con electrones de MeV.

About the author










Prof. Sonia Kaschieva PhD, DSc, ISSP, BAS. Sofia, Bügaria. Urodzona w 1943 r. w Bügarii. 1999 - Doktor nauk w JINR, Dubna, Rosja. 2004 - Profesor, cz¿onek stowarzyszony ISSP - BAS. Prof. Sergey N. Dmitriev PhD, DSc, JINR, Dubna - Rosja Urodzony w 1954, Rosja 1996 - Doktor nauk w JINR, Dubna, Rosja 2000 - Profesor, dyrektor FLNR JINR.

Product details

Authors Sergey N. Dmitriev, Sonia Kaschieva
Publisher Ediciones Nuestro Conocimiento
 
Languages Spanish
Product format Paperback / Softback
Released 21.05.2020
 
EAN 9786200995735
ISBN 978-620-0-99573-5
No. of pages 180
Dimensions 150 mm x 220 mm x 11 mm
Weight 286 g
Subject Natural sciences, medicine, IT, technology > Physics, astronomy > Miscellaneous

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