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Les couches minces ou très minces (d'épaisseurs comprises entre
seulement quelques micromètres et quelques nanomètres) sont
omniprésentes dans notre environnement, que ce soit à l'état
naturel, dans les mondes du vivant et minéral, ou à l'état synthétique,
dans les objets manufacturés : membranes biologiques, couches
d'altération, revêtements de protection, films à propriétés conductrices
ou isolantes, couches colorées, membranes synthétiques, capteurs.
Leurs propriétés d'usage dépendent à la fois de leur composition
chimique globale et de leur microstructure. L'optimisation de ces
propriétés nécessite donc une caractérisation fine de la microstructure.
Cependant leur faible épaisseur rend particulièrement complexe
cette opération.
Cet ouvrage présente différentes techniques de caractérisation fondées
sur l'analyse des interactions entre la matière et un faisceau électromagnétique
ou neutronique. Il expose les bases théoriques et les
derniers développements des techniques ellipsométriques, de réflectométrie
(X, neutronique et optique) et de diffraction des rayons X.
Les auteurs des différents chapitres, spécialistes reconnus, proposent
des textes synthétiques assortis de références bibliographiques à
partir desquelles le lecteur pourra approfondir ses connaissances. Cet
ouvrage sera ainsi fort utile à tous les ingénieurs, chercheurs et
étudiants souhaitant s'initier ou se perfectionner aux techniques de
caractérisation de films minces.
