Fr. 72.00

Caractérisation des couches minces de BST

French, German · Paperback / Softback

Shipping usually within 2 to 3 weeks (title will be printed to order)

Description

Read more

Ce travail de recherche s'inscrit dans le domaine de la physique des milieux condensés, il se rapporte à la caractérisation des couches minces de type BST (Ba1-xSrxTiO3) par la propagation des ondes acoustiques de surface et par la diffractométrie X. Le BST est une pérovskite, donc une structure très sensible à sa concentration en oxygène et à ses proportions Baryum Strontium. Cette structure change suivant la température et surtout suivant la concentration x en strontium incorporée. L'étude de la propagation des ondes de surface repose sur des méthodes de calcul où nous avons présenté la base de la théorie relative à la propagation d'onde de surface dans les structures couches/substrat. La théorie concerne la méthode ODE et la méthode SMM qui ont été détaillées selon les structures non-piézoélectrique, les structures piézoélectrique puis pour des structures soumises à des contraintes résiduelles. La théorie relative à l'acoustoélasticité était basée sur la méthode ODE qui a été détaillées avec des modifications introduite au coeur de la méthode ODE permettant ainsi d'évaluer l'effet des contraintes dans les milieux épitaxiés.

About the author










Mseddi Souhir, docteur en physique, faculté des sciences de Sfax, université de Sfax, Tunisie.

Product details

Authors Souhir Mseddi
Publisher Éditions universitaires européennes
 
Languages French, German
Product format Paperback / Softback
Released 01.01.2017
 
EAN 9783639651515
ISBN 978-3-639-65151-5
No. of pages 132
Subject Natural sciences, medicine, IT, technology > Physics, astronomy > Mechanics, acoustics

Customer reviews

No reviews have been written for this item yet. Write the first review and be helpful to other users when they decide on a purchase.

Write a review

Thumbs up or thumbs down? Write your own review.

For messages to CeDe.ch please use the contact form.

The input fields marked * are obligatory

By submitting this form you agree to our data privacy statement.