Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) - Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D

Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps für die PrüfungZielgruppe:Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.

Summary

Zum Werk
Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.
Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.
Vorteile auf einen Blick
- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen
- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt
- Details der Punktevergabe
- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen
- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen
- Tabellen als Bearbeitungshilfen
- praktische Tipps für die Prüfung
Zielgruppe:
Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.

Product details

• Authors: Daniel Herrmann, Daniel (Dr. rer. nat.) Herrmann
• Publisher: Beck Juristischer Verlag
• Languages: German, English
• Product format: Paperback / Softback
• Released: 01.06.2017
• EAN: 9783406707896
• ISBN: 978-3-406-70789-6
• No. of pages: 223
• Dimensions: 210 mm x 297 mm x 18 mm
• Weight: 668 g
• Subjects: Social sciences, law, business > Law > Mercantile and commercial law; W-RSW_Rabatt, Patentanwalt, Europäische Eignungsprüfung, Patentanwaltskandidat