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La interferometría usa el principio de superposición de las ondas electromagnéticas bajo ciertas condiciones de coherencia para obtener información acerca de ellas. La aparición de franjas de interferencia puede ocurrir cuando dos o más ondas de luz se superponen en algún punto en el espacio. A través de un patrón de franjas se puede medir cantidades físicas de objetos, como por ejemplo: su módulo de Young, obtención de la topografía, determinación de esfuerzos mecánicos, medición de temperatura, de índice de refracción, distribución en 3D de desplazamiento o deformación, detección de fracturas mecánicas, obtención de modos de vibración, etc. En este libro, se propone un nuevo método de corrimiento de fase en un patrón de franjas, basado en la modulación de la amplitud de dos ondas llamadas ondas de referencia bajo el esquema de un interferómetro de tres haces, demostrando dicho método mediante simulaciones numéricas y tres arreglos experimentales.
About the author
Uriel Rivera-Ortega nació en Orizaba-Veracruz, México. Ingeniero en Mecatrónica (Universidad Popular Autónoma del Estado de Puebla, UPAEP). Maestro y Doctor en Ciencias con especialidad en Interferometría Óptica, por parte de la Benemérita Universidad Autónoma de Puebla (BUAP). Estancia posdoctoral en Universidad de Amberes, Bélgica (2014-2016).
