Sold out

Fotoreise 'Auf den Spuren von J.G. Seume' - Dtsch.-Italien.

German, Italian · Hardback

Description

Read more

Auf den Spuren von Johann Gottfried Seume und seinem Klassiker "Spaziergang nach Syrakus" reiste der Fotograf Fridhelm Volk von Grimma über Wien, Venedig und Neapel nach Sizilien. In stimmungshaften Schwarz-Weiss-Aufnahmen von fast meditativer Schönheit hielt er dabei die langsam sich verändernden Jahreszeiten, der Vegetationswechsel, die unterschiedlichen Landschaftsstriche, aber auch europäische Städte wie Prag, Wien oder Rom fest. Volk verstand es, die Atmosphäre und Stimmungen, die Seume auf seiner Reise erlebte, auf einzigartige Weise nachzuempfinden und wieder lebendig werden zu lassen.

About the author

Fridhelm Volk, geboren 1942 in Königsberg, war Schüler von Walter E. Lautenbach in Stuttgart und ist seit 1965 selbständiger Fotodesigner mit den Schwerpunkten Werbung, Mode, Reportage. Er ist Gründungsmitglied des Bundes freischaffender Fotodesigner (BFF), Mitglied des Verbandes Bildender Künstler und Künstlerinnen Baden-Württemberg (VBKW) sowie berufenes Mitglied der Deutschen Gesellschaft für Photographie (DGPh). Fridhelm Volk hat seit vielen Jahren einen Lehrauftrag für Fotodesign an der Fachhochschule für Gestaltung Würzburg inne. Zahlreiche Einzel- und Gruppenausstellungen.§

Product details

Authors Fridhelm Volk
Publisher Edition Braus
 
Languages German, Italian
Product format Hardback
Released 01.01.2001
 
EAN 9783926318145
ISBN 978-3-926318-14-5
No. of pages 213
Dimensions 245 mm x 28 mm x 305 mm
Weight 1614 g
Illustrations m. zahlr. Duotone-Fotos.
Subject Guides > Hobby, home > Photography, filmmaking, video filmmaking

Customer reviews

No reviews have been written for this item yet. Write the first review and be helpful to other users when they decide on a purchase.

Write a review

Thumbs up or thumbs down? Write your own review.

For messages to CeDe.ch please use the contact form.

The input fields marked * are obligatory

By submitting this form you agree to our data privacy statement.