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Méthode de projection des données pour le diagnostic - Diagnostic des systèmes linéaires et bilinéaires

French · Paperback / Softback

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Dans ce travail nous nous sommes intéressés à la détection, la localisation et l'estimation de défauts (défauts de capteurs, d'actionneurs et défauts internes) dans les systèmes modélisés sous forme d'état linéaire et bilinéaire. La méthode que nous proposons, appelée Méthode par Projection des Données, nécessite de connaître la structure du modèle comportemental mais ne nécessite pas de connaître les valeurs des paramètres de ce modèle. Les indicateurs de défauts sont générés par des techniques de projection matricielle en utilisant uniquement les données d'entrées et de sorties mesurées. Les défauts internes, supposés abrupts et invariants, entraînent des dynamiques différentes qui correspondent à des modes de fonctionnement défaillant. Le problème de diagnostic se ramène alors à un problème d'estimation des instants de commutation et de reconnaissance du mode actif à chaque instant. Les propriétés de détectabilité de commutation (détectabilité du défaut) et de discernabilité entre modes (identifiabilité du défaut) sont caractérisées. Cette méthode peut être directement implantée sur des applications de même type sans que les paramètres de chaque système soient identifiés.

About the author










Née le 17 Mars 1987 à Arzew en Algérie, Assia HAKEM est titulaire d'un doctorat en Automatique et Informatique Industrielle, obtenu en 2014 à l'université Lille 1, et titulaire d'un master en systèmes intelligents pour les transports en 2010 à l'université de Compiègne.

Product details

Authors Assia Hakem
Publisher Presses Académiques Francophones
 
Languages French
Product format Paperback / Softback
Released 01.01.2015
 
EAN 9783838176628
ISBN 978-3-8381-7662-8
No. of pages 180
Subjects Humanities, art, music > Philosophy > Miscellaneous
Non-fiction book > Philosophy, religion > Miscellaneous

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