Sold out

Analytische Darstellung der Kinetik des Keimaufbaus beim fotografischen Prozess

German · Paperback / Softback

Description

Read more

"Vom Wasser haben wir s gelernt " und zwar von dem kaskadenförmigen Wasserfall als Grundmodell einer Folge dynamischer Prozesse, das der Verfasser in seiner Habilitationsschrift auf den stufenartigen Aufbau der Keime des Latenten Bildes der fotografischen Schicht im Prozess der Belichtung anwendet.
Die mathematische Formulierung des Reaktionssystems liefert eine Erklärung für die fotografischen Effekte, vor allem für den Schwarzschild-Effekt, der als Prüfstein für die Theorie des fotografischen Prozesses gilt. Die unterschiedliche Wirkung von Doppelbelichtungen bei Vertauschung der Reihenfolge verschiedenartiger Einzelbelichtungen wird durch die Nichtkommutativität aufeinanderfolgender Prozessabläufe erklärt. Auf der Grundlage der dargelegten Theorie wird die fotografische Schwärzung als Funktion der Belichtung analytisch formuliert und numerisch berechnet.

About the author

Ewald Gerth, Jg. 1934 und durch den Vater früh vertraut gemacht mit der Fotografie, studierte von 1955-59 an der Pädagogischen Hochschule Potsdam Physik und Mathematik, promovierte 1965 daselbst mit einem Thema über fotografische Doppelbelichtungen und ging 1967 an das Astrophysikalische Observatorium Potsdam der Wirkungsstätte Karl Schwarzschilds, des Begründers der Wissenschaftlichen Fotografie.

Product details

Authors Ewald Gerth
Publisher Utz Verlag
 
Languages German
Product format Paperback / Softback
Released 01.10.2013
 
EAN 9783831642991
ISBN 978-3-8316-4299-1
No. of pages 120
Dimensions 172 mm x 239 mm x 10 mm
Weight 260 g
Illustrations 11 SW-Abb.
Series Physik
Physik
Subject Natural sciences, medicine, IT, technology > Physics, astronomy > Theoretical physics

Customer reviews

No reviews have been written for this item yet. Write the first review and be helpful to other users when they decide on a purchase.

Write a review

Thumbs up or thumbs down? Write your own review.

For messages to CeDe.ch please use the contact form.

The input fields marked * are obligatory

By submitting this form you agree to our data privacy statement.