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Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden

German · Paperback / Softback

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List of contents

A. Untersuchungsmethoden.-
1. Elektronenoptische Grundlagen des Durchstrahlungsmikroskopes.-
2. Prinzipieller Aufbau des Durchstrahlungsmikroskopes.-
3. Andere Abbildungsverfahren.-
4. Messung wichtiger optischer Konstanten.-
5. Elektronenbeugung.-
6. Bildkontrast in amorphen Objekten.-
7. Phasenkontrast und verwandte Probleme.-
8. Bildkontrast in kristallinen Objekten.-
9. Präparatveränderungen unter Elektronenbestrahlung.-
10. Bildaufzeichnung und Intensitätsmessungen.-
11. Ermittlung der dritten Dimension von elektronenmikroskopischen Präparaten.-
12. Abbildung magnetischer und elektrischer Objektfelder.- B. Präparationsmethoden.-
13. Objektblenden und Trägernetze.-
14. Grundlagen der Hochvakuum- und Aufdampftechnik.-
15. Herstellung und Eigenschaften von Trägerfolien.-
16. Oberflächenabdrücke.-
17. Herstellung durchstrahlbarer Folien aus Metallen und anderen Kristallen.-
18. Präparation von Pulvern, Suspensionen, Stäuben und Aerosolen.-
19. Gewebefixation.-
20. Kontrastierung und histochemische Methoden.-
21. Einbettung.-
22. Ultramikrotomie.-
23. Präparation organischer Teilchen (Fraktionen, Homogenisate, Bakterien, Phagen und Viren).-
24. Autoradiographie.-
25. Monographien über Elektronenmikroskopie.-
26. Bezugsquellen-Nachweis.- Namenverzeichnis.

Product details

Authors L Reimer, L. Reimer
Publisher Springer, Berlin
 
Languages German
Product format Paperback / Softback
Released 25.07.2013
 
EAN 9783642865589
ISBN 978-3-642-86558-9
No. of pages 598
Weight 926 g
Illustrations XII, 598 S. 283 Abb.
Subject Natural sciences, medicine, IT, technology > Physics, astronomy > General, dictionaries

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