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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins développe une approche physique du phénomène de diffraction et de ses applications en science des matériaux. Placée en première partie de l'ouvrage, une introduction historique présente le développement de la théorie de la diffraction des rayons X depuis la découverte de ces derniers. La seconde partie est consacrée à la description du phénomène physique de diffraction des rayons X. Dans la troisième partie, l'auteur analyse en détail les instruments utilisés, répondant aussi bien aux besoins des ingénieurs en recherche et développement en poste dans l'industrie qui doivent choisir l'appareillage adapté à leurs problèmes, qu'à ceux des étudiants qui peuvent ainsi appréhender le lien entre l'appareil de mesure et les caractéristiques du signal obtenu. La quatrième partie est consacrée au traitement du signal mesuré, tandis que la dernière traite de l'exploitation des résultats. L'auteur y présente en particulier des développements très récents qui concernent l'analyse microstructurale quantitative au moyen de la diffraction des rayons X.
Ce livre s'adresse aux étudiants de deuxième et troisième cycles, ainsi qu'aux ingénieurs ou chercheurs en fonction, dont le domaine d'activité est lié à la science des matériaux et qui sont soucieux de maîtriser la mise en œuvre de la diffraction des rayons X pour l'étude de matériaux polycristallins.
