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Zum Inhalt:
Pad-Ausgangstreiber sind, bedingt durch die Größe der eingesetzten Transistoren und die dadurch bei jedem Schaltvorgang fließenden Ströme, eine wesentliche Ursache bei der Bildung elektromagnetischer Störungen durch schnell getaktete Integrierte Schaltungen. Die Wirkung von Maßnahmen an unterschiedlichen Ausgangssignalparametern im Zeitbereich auf das Signalspektrum zeigt, dass die Vergrößerung von Flankenanstiegs- und -abfallszeiten ein großes Verbesserungspotential bietet. Da diese Flankenübergangszeiten für maximal große Lasten und zu langsamen Schaltgeschwindigkeiten führenden Betriebsbedingungen, wie Umgebungstemperatur, Versorgungsspannung und Herstellungsprozessparametern, spezifiziert werden, sind die Ausgangsflanken in den anderen, meistens auftretenden Fällen steiler als gefordert. Es werden neue Konzepte eines Pad-Treibers vorgestellt, die die Signalflankenzeit einstellbar und unabhängig von den genannten Einflüssen einregeln. Eine Ausführungsform wurde auf einem Testchip integriert. Messungen weisen die Funktionsfähigkeit des Konzepts und die erzielten Verbesserungen nach.
Interessentenkreis:
Die Arbeit ist für Schaltungsentwickler interessant, die sich mit elektromagnetischer Verträglichkeit auf Board- oder Chip-Ebene beschäftigen. Ebenso kann es in der Lehre als ein Beispiel zum Thema elektromagnetische Verträglichkeit eingesetzt werden.
