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Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

French · Paperback / Softback

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Passe en revue les étapes élémentaires de la fabrication de composants micro-électroniques : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie. Présente les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Pour chaque étape, sont détaillés le procédé, les équipements et la physique des techniques.

Product details

Authors Annie Baudrant, BAUDRANT, Annie Baudrant, TARDIF François BAUDRANT Annie, François Tardif, C. Wyon
Publisher Lavoisier-Hermès
 
Languages French
Product format Paperback / Softback
Released 01.04.2009
 
EAN 9782746206052
ISBN 978-2-7462-0605-2
No. of pages 192
Dimensions 160 mm x 240 mm x 10 mm
Weight 510 g
Series Traité EGEM
Traité EGEM. Electronique et micro-électronique
Traité EGEM, Electronique et micro-électronique
TRAITE EGEM
Subject Non-fiction book > Nature, technology

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