Peter Pichler - Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Schreibe die erste Bewertung!

CHF 357.00

Peter Pichler

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Englisch · Fester Einband

Versand in der Regel in 6 bis 7 Wochen

Beschreibung

Produktdetails

Autoren Peter Pichler
Verlag Springer, Wien
 
Inhalt Buch
Produktform Fester Einband
Erscheinungsdatum 02.06.2004
Thema Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik > Technik > Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik
 
EAN 9783211206874
ISBN 978-3-211-20687-4
Anzahl Seiten 554
Illustration XXI, 554 p. 40 illus.
Höhe (Verpackung) 25.4 cm
Gewicht (Verpackung) 1’192 g
 
Serie Computational Microelectronics
Themen C, Microscopy, engineering, spectroscopy, Solid State Physics, Spectroscopy and Microscopy, Optical and Electronic Materials, Electronic materials, Electronic devices & materials, Optical Materials, Electronics, Microelectronics, Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Electronic Devices, Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry, Scientific equipment, experiments & techniques
 

Kundenrezensionen

Zu diesem Artikel wurden noch keine Rezensionen verfasst. Schreibe die erste Bewertung und sei anderen Benutzern bei der Kaufentscheidung behilflich.

Schreibe eine Rezension

Top oder Flop? Schreibe deine eigene Rezension.

Für Mitteilungen an CeDe.ch kannst du das Kontaktformular benutzen.

Die mit * markierten Eingabefelder müssen zwingend ausgefüllt werden.

Mit dem Absenden dieses Formulars erklärst du dich mit unseren Datenschutzbestimmungen einverstanden.