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$H -J Bunge, H. -J Bunge, Hans J Bunge, Hans J. Bunge, Jaroslav Fiala, … - Defect and Microstructure Analysis By Diffraction$

H -J Bunge, H. -J Bunge, Hans J Bunge, Hans J. Bunge, Jaroslav Fiala, … Defect and Microstructure Analysis By Diffraction Englisch 06.01.2000 Fester Einband CHF 536.00 1-3 Wochen

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Jenkins, Alan Jenkins, R. Snyder Jenkins, Ro Jenkins, Ron Jenkins, … Introduction to X-Ray Powder Diffracometry Englisch 10.01.1997 Fester Einband CHF 270.00 3-5 Wochen

Robert L Snyder als Mitarbeiter/in

T. C. Huang, I. C. Noyan, D. K. Smith, Cev Noyan, I Cev Noyan, … - Advances in X-Ray Analysis Volume 39

T. C. Huang, I. C. Noyan, D. K. Smith, Cev Noyan, I Cev Noyan, … Advances in X-Ray Analysis Englisch 03.02.2011 Fester Einband CHF 429.60 3-5 Wochen