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Albert Bosio, Alberto Bosio, Luig Dilillo, Luigi Dilillo, Patrick Girard, … - Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Albert Bosio, Alberto Bosio, Luig Dilillo, Luigi Dilillo, Patrick Girard, … Advanced Test Methods for SRAMs Englisch 01.01.2014 Taschenbuch CHF 139.00 6-7 Wochen

Albert Bosio, Alberto Bosio, Luig Dilillo, Luigi Dilillo, Patrick Girard, … Advanced Test Methods for SRAMs Englisch 02.12.2009 Fester Einband CHF 135.00 6-7 Wochen