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Zum WerkDer Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.Vorteile auf einen Blick
- Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker
- gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard
- Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur NeuauflageDie Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).ZielgruppeFür Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Riassunto
Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
