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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits - The System on Chip Approach

Inglese · Tascabile

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Descrizione

Dettagli sul prodotto

Con la collaborazione di Yichuang Sun (Editore)
Editore Institution of Engineering & Technology
 
Lingue Inglese
Formato Tascabile
Pubblicazione 30.05.2008
 
EAN 9780863417450
ISBN 978-0-86341-745-0
Pagine 416
Dimensioni 156 mm x 234 mm x 22 mm
Peso 623 g
Serie Circuits, Devices and Systems
Materials, Circuits and Device
Circuits, Devices and Systems
Categoria Scienze naturali, medicina, informatica, tecnica > Tecnica > Elettronica, elettrotecnica, telecomunicazioni

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